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基于 STM32 与改进 Yolov5s 的铝片生产表面缺陷检测系统设计-科技创新与应用2026年12期

基于 STM32 与改进 Yolov5s 的铝片生产表面缺陷检测系统设计

作者:桂玲 曹竟成 李丽姣 向诚 字体:      

DOI:10.19981/j.CN23-1581/G3.2026.12.007

中图分类号:TP242.6

文献标志码:A

文章编号:2095-2945(2026)12-0025-04

Abstract: This paper uses OV5640 to collect image data and builds TCP server through u(试读)...

科技创新与应用

2026年第12期